ミツトヨお悩み解決提案
セラミックデバイスの評価
ミツトヨお悩み解決提案
セラミックデバイスの評価
セラミック基板は高い熱伝導率、放熱性や絶縁特性に優れており、さまざまな産業用途で活用されています。
一方で、HTCC基板、LTCC基板・MLCCなど製造工程であるグリーンシートの積層や焼成による基板の収縮が
配線パターンの位置ズレを発生させるリスクがあります。
不良品を後工程に流さない品質管理を、ミツトヨの画像測定機にて提案します。
セラミック基板の測定課題
高温による焼成や積層時に生じる反り、伸び縮みによる積層ズレ、パターン印刷による欠陥など
設計通りにできずに不良が発生していませんか?
下記の要因から対策が打てていないのであれば、ミツトヨの画像測定機にて対策が可能です。
課題1:高信頼性のため全アレイを測定したいが時間がかかりすぎる。
課題2:セラミック積層基板の反りやキャビティ部のオートフォーカスに時間がかかっている。
課題3:MLCCの小型化・多層化により、歩留まりが悪化している。
課題解決1:測定時間短縮による全アレイ検査の実現
課題1:高信頼性のため全アレイを測定したいが時間がかかりすぎる。
ミツトヨのCNC画像測定機「Quick Vision Pro」は、通常のCNC画像測定機と異なり、常に移動しながら
ノンストップ測定ができます。これにより、厳しい要求タクトタイムもクリアし、全アレイ検査を可能とします。
全アレイ検査することで、不良品を次の工程に回さないコスト低減や、品質管理強化による信頼性向上に繋がります。
大幅な測定時間短縮で全数検査も可能
課題解決2:わずらわしいピント合わせの解消
課題2:セラミック積層基板の反りやキャビティ部のオートフォーカスに時間がかかっている。
「Quick Vision Pro」なら、測定物にフォーカスが追従するトラッキングAF機能(TAF)により、測定
時間を大幅に短縮できます。また反りを原因とした検出エラーによるチョコ停が軽減され、検査員が
他の作業に集中でき生産性が向上します。
チョコ停改善で生産性向上
課題解決3:工程内検査の強化による歩留まり改善
課題3:MLCCの小型化・多層化により、歩留まりが悪化している。
高スループットの「Quick Vision Pro」であれば、全体のサイクルタイムを落とさずに各工程内での
抜き取り検査を組み込むことが可能です。これにより、不良品が次の工程に進むのを防止し、歩留まり
が改善します。
工程内検査の強化による歩留まり改善
セラミック基板評価のお悩みをお気軽にご相談ください。
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